ビームライン概要
軟X線領域においてX線吸収微細構造（XAFS）の測定を行い、材料中の原子の化学状態や局所構造を解析するためのビームラインです。K吸収端で C・N・O・F・Na・Mg・Al等の軽元素や軽金属、L吸収端では Ti・V・Cr・Mn・Fe・Co・Ni・Cu等の遷移金属を主な対象として測定を行うことが可能です。
ロードロックにはサンプルバンクを3セット備えており、合計21枚のサンプルプレートを同時に導入することができます。多くの試料の測定を行うのに適しています。
大気非曝露測定を行うためのトランスファーベッセルを備えています。トランスファーベッセルとサンプルプレートは、あいちシンクロトロン光センター内の軟X線ビームライン3本（BL1N2、BL6N1、BL7U）で共通型であり、ビームライン間で大気非暴露での試料の受け渡しが可能です。
| 光エネルギー |
0.15～2.0 keV (8.3～0.6 nm)
［回折格子： 500 lines/mm(G1), 1000 lines/mm(G2)，500 lines/mm(G3)］
|
| ビームサイズ | 約 1 × 1 mm （幅×高さ） |
| 光子数 |  |
| 測定可能元素 |  |
| 光学系 |  |
現在の整備状況
測定方法
サンプルプレート（図面）
約10 × 10 mm、厚み3 mm以下の試料を貼り付け可能。
サンプルバンク 3セット
21 個（7個×3セット）のサンプルプレートを導入し、同時に真空引きが可能
トランスファーベッセル（大気非曝露測定用）
使用方法について（PDF）
エンドステーション
測定事例
Al およびMgのXAFS測定（G1とG2の使い分け）
2018-08-02更新
2018-11-26更新
2018-11-26更新
2018-10-25更新
リチウムイオン電池正極材料の軟X線XAFS測定 PDFはこちら
2019-04-05更新
2018-10-25更新