2024度 公共等利用 成果報告書
※印 は公開延期申請
BL1N2 (軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202404124 | 石炭灰中のホウ素の化学的存在状態解明 | 東京都市大学・松浦治明 |
202404125 | 石炭灰中のナトリウムの化学的存在状態解明 | 東京都市大学・松浦治明 |
202404133 | 石炭灰中のホウ素の化学的存在状態解明 | 東京都市大学・松浦治明 |
202405190 | 導電性TiO2の局所構造解析 | 東京大学・簾智仁 |
BL2S1 (単結晶X線回折:名古屋大学)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
2024N1001 | 超高圧合成における高配位構造の探索と凍結性に関する研究 | (国研)物質・材料研究機構・遊佐斉 |
2024N1002 | 超高圧下で合成された微小試料の常圧および高圧その場回折測定:メラミンの超高圧高温実験 | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N1003 | 回折X線明滅法を用いた結晶格子の動態温度依存性評価 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N1004 | シトクロム酸化酵素の反応機構解明 | 岐阜大学・島田敦広 |
2024N2001 | 超高圧下で合成された微小試料の常圧および高圧その場回折測定:新規遷移金属ケイ化物の超高圧合成 | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N2002 | 超高圧合成における高配位構造の探索と凍結性に関する研究 | (国研)物質・材料研究機構・遊佐斉 |
2024N2003 | バナデートの電場印加時のX線回折 | 名古屋大学・片山尚幸 |
2024N2004 | 回折X線明滅法を用いた粉末結晶体の相転移観察 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N2005 | 新規形状をもつ人工設計タンパク質の構造決定 | 名古屋大学・千見寺浄慈 |
2024N2006 | 高圧力下における水素結合性結晶の構造変化-ガスハイドレートのケージ占有性-その1 | 岐阜大学・佐々木重雄 |
2024N2007 | バナデートの電場下回折実験 | 名古屋大学・片山尚幸 |
2024N2008 | 圧力などの外部刺激を利用した蛋白質結晶構造解析 | 東京薬科大学・永江峰幸 |
2024N3001 | バナデートの電場下回折実験2 | 名古屋大学・片山尚幸 |
2024N3003 | 超高圧下で合成された微?試料の常圧および高圧その場回折測定:窒化炭素の超高圧高温実験 | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N3004 | 回折X線明滅法をお用いた粉末結晶体の相転移観察その2 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N3005 | 水素を構成元素とする分子性固体の高圧力下における構造変化VI | 岐阜大学・坂田雅文 |
2024N3006 | アクチンと結合タンパク質のX線結晶構造の解明 | 名古屋大学・武田修一 |
2024N3009 | アルテミシジン生合成における新規スルホンアミド合成酵素の立体構造解析 | 東京大学・森貴裕 |
2024N3010 | アクチンと結合タンパク質のX線結晶構造の解明 | 名古屋大学・武田修一 |
2024N4001 | 回折X線明滅法を用いた圧電効果の結晶動態観察 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N4002 | 超高圧下で合成された微小試料の常圧および高圧その場回折測定:新規遷移金属ケイ化物の超高圧合成_II | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N4004 | アクチンと結合タンパク質のX線結晶構造の解明 | 名古屋大学・武田修一 |
2024N4005 | PET分解酵素の結晶構造解析 | (国研)量子科学技術研究開発機構・玉田太郎 |
2024N4007 | マイクロ流路材料探索のためのバックグラント測定 | 立命館立命館大学・磯崎瑛宏 |
2024N4008 | 回折X線明滅法をお用いた粉末結晶体の相転移観察その3 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N5001 | 超高圧下で合成された微小試料の常圧および高圧その場回折測定:物性測定用極微小試料の超高圧合成と評価 | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N5002 | アクチンと結合タンパク質のX線結晶構造の解明 | 名古屋大学・武田修一 |
2024N5003 | 酸化ストレスが誘導する加齢性白内障発症に関与する酸化モデルβB2-crystallin四量体の構造解析 | 京都大学・高田匠 |
2024N5004 | 超高圧合成における高配位構造の探索と凍結性に関する研究 | (国研)物質・材料研究機構・遊佐斉 |
2024N5005 | バナデートの電場下回折実験3 | 名古屋大学・片山尚幸 |
2024N5006 | 高圧力下における水素結合性結晶の構造変化--ガスハイドレートのケージ占有性-その2 | 岐阜大学・佐々木重雄 |
2024N5007 | 回折X線明滅法を用いた束縛水分子動態の観察 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N5008 | 超高圧下で合成された微小試料の常圧および高圧その場回折測定 | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N5009 | アクチンと結合タンパク質のX線結晶構造の解明 | 名古屋大学・武田修一 |
2024N6001 | 外場下回折実験のセットアップ構築 | 名古屋大学・片山尚幸 |
2024N6002 | アクチンと結合タンパク質のX線結晶構造の解明 | 名古屋大学・武田修一 |
2024N6003 | 超高圧下で合成された微小試料の常圧および高圧その場回折測定 | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N6004 | 超高圧合成における高配位構造の探索と凍結性に関する研究 | (国研)物質・材料研究機構・遊佐斉 |
2024N6005 | 回折X線明滅法を用いた束縛水分子動態の観察2 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N6006 | 酸化ストレスが誘導する加齢性白内障発症に関与する酸化モデルβB2-crystallin四量体の構造解析 | 京都大学・高田匠 |
2024N6008 | 単結晶X線回折による生体材料の結晶構造解析 | 東京都立産業技術研究センター・小西敏功 |
BL5S1 (硬X線XAFS I )
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401002 ※ | ZrO2のK-edge EXAFS測定 | 名古屋大学・片山尚幸 |
202401006 | 電気炉スラグ中に含まれるCrの存在形態解析 | 早稲田大学・成田麻子 |
202401018 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202401026 | SWCNT担持Pt電極触媒のin situ化学結合状態分析 | 名古屋大学・渡部孝 |
202401028 ※ | 日本各地の水田土壌を培養した時の無機ヒ素の化学形態変化の比較 | (国研)農業・食品産業技術総合研究機構・須田碧海 |
2024D1001 | 多型二酸化マンガンの電子状態分析 | 北海道大学・小林弘明 |
202402014 | 【重点_C6】Cu K吸収端エネルギーの経時変化 | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202402019 | 腐食鋼材の硬X線XAFS測定 | あいち産業科学技術総合センター・福岡修 |
202402021 | As(V)・As(III)共存下でのフェリハイドライトによるAsの除去メカニズムの解明 | 早稲田大学・成田麻子 |
202402029 | 酸素欠損チタニア系の前駆体のH2雰囲気加熱による性状変化 | 東京都立産業技術研究センター・染川正一 |
202402037 ※ | 鉄の価数測定 | (公財)東洋食品研究所・稲田有美子 |
202402039 | 石炭灰中微量含有物質の化学的存在状態解明 | 東京都市大学・松浦治明 |
202402050 | 水田土壌に含まれる鉄の化学状態解析 | 名古屋大学・髙濵謙太朗 |
202402078 | 亜鉛電解液の溶液構造解析 | 東京大学・西村真一 |
202402114 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202402115 | 部分安定化ジルコニアのXAFS解析 | 共立マテリアル(株)【愛知県実地研修】 |
2024D2024 | 元素置換型チタン酸ナトリウム結晶のフラックス育成とその金属イオン交換特性評価 | 信州大学・TipplookMongkol |
202403029 | 鉄系超伝導体薄膜NdFeAs(O,H)薄膜のXAFS測定 | 名古屋大学・生田博志 |
202403033 | 腐食鋼材の硬X線XAFS測定 | あいち産業科学技術総合センター・福岡修 |
202403034 | 改質した酸素欠陥型酸化チタンの物性解析 | 東京都立産業技術研究センター・染川正一 |
202403036 | 電気パルスにより剥離したリチウムイオン電池正極活物質の解析 | 早稲田大学・成田麻子 |
202403047 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202403051 | フッ化物正極材料の充放電メカニズム解明 | 名古屋工業大学・宮崎怜雄奈 |
202403056 | 還元状態のセレン・ヒ素のエネルギーシフトの原因について | 岐阜大学・香川雅子 |
202403070 ※ | サポナイト–銅複合体の化学状態調査 | 東京都立産業技術研究センター・柳田さやか |
202404002 | エピタキシャル薄膜を活用した固相反応の素過程解明 | 東京大学・簾智仁 |
202404005 | X線吸収分光法によるPtCo系燃料電池カソード電極触媒の構造解析 | 熊本大学・大山順也 |
202404006 | アルテミシジン生合成における新規スルホンアミド合成酵素の立体構造解析 | 東京大学・森貴裕 |
202404034 ※ | 水田土壌酸化過程における溶存ヒ素減少と固相中ヒ素酸化の関係 | (国研)農業・食品産業技術総合研究機構・山口紀子 |
202404039 | SWCNT担持PtCo電極触媒の化学結合状態分析 | 名古屋大学・渡部孝 |
202404077 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
2024D4019 | 銅とセルロースナノファイバーの測定 | あいち産業科学技術総合センター・森川豊 |
202405003 | Fe基磁性ナノ粒子形成過程のin-situ XAFS測定① | 名古屋大学・小川智史 |
202405005 | 蓄電材料のレドックス反応分析 | 北海道大学・小林弘明 |
202405010 | EXAFSによるFe/Si共添加Y3Fe5O12スピングラス物質の構造解析 | 名古屋工業大学・木村耕治 |
202405014 | 金属酸化物アモルファス薄膜の局所構造解析 | 東京大学・簾智仁 |
202405020 | 【実地研修】毛髪のマッピング分析 | あいち産業科学技術総合センター・福岡修 |
202405028 | 金属酸化物触媒中の活性種構造解析 | 名古屋大学・吉田朋子 |
202405033 | 大気エアロゾル中のセレンの酸化状態 | 岐阜大学・香川雅子 |
202405041 | 廃樹脂の加熱分解試験後局所構造解析 | 東京都市大学・松浦治明 |
202405060 | Wドープアナターゼ型TiO2ナノ粒子における遷移金属の電子状態評価 | 三重大学・田港聡 |
202405069 | 資材の施用による湛水条件下の鉄の化学形態の変化 | 愛知県農業総合試験場・安藤薫 |
202405084 | 担持金属導入POM触媒のXAFSによる電子状態分析 | 東京大学・矢部智宏 |
202405085 | 遷移金属ドープ窒化炭素CO2還元光触媒のXAFS分析 | 名古屋工業大学・石井陽祐 |
202405119 | アルテミシジン生合成における新規スルホンアミド合成酵素の活性中心の解析 | 東京大学・森貴裕 |
202405166 | 多孔質シリカ吸着材の性能評価 | (国研)日本原子力研究開発機構・渡部創 |
202405167 | 陶片断面の蛍光マッピングとXAFS | 上越教育大学・兪期天 |
202406012 | 多価イオン電池用トンネル構造型正極材料のレドックス特性評価 | 東北大学・飯村玲於奈 |
202406013 | 低地土・黒ボク土の湛水培養にともなうヒ素の化学形態変化の解析 | (国研)農業・食品産業技術総合研究機構・須田碧海 |
2024D5012 | ナトリウムイオン挿入脱離に伴うプルシアンブルー類似体の電子状態変化 | 早稲田大学・川合航右 |
BL5S2 (粉末X線回折)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401025 ※ | CHAゼオライトの低温XRD測定 | 富山大学・田口明 |
202401048 | 層状ペロブスカイト化合物の温度変化を伴う構造解析 | 岡山大学・狩野旬 |
2024D1009 | 充放電サイクルにともなう層状酸化物正極の結晶構造変化 | 早稲田大学・川合航右 |
2024D1011 | 次世代蓄電池用酸化物材料の結晶構造解析 | 横浜国立大学・藪内直明 |
202402061 ※ | Li酸素電池放電生成物のX線回折測定 | 大阪大学・長谷陽子 |
202402079 | 高圧下で合成された微量試料の放射光粉末X線回折測定:高圧複分解窒化物合成反応における金属源の検討 | 名古屋大学・佐々木拓也 |
202402100 | 酸化物リチウムイオン伝導体の結晶構造解析 | 名古屋大学・矢島健 |
2024D2008 | 層状複水酸化物のイオン交換挙動の理解 | 信州大学・林文隆 |
2024D2023 | MoTe2およびAgxMoTe2の結晶構造解析 | (国研)産業技術総合研究所・藤岡正弥 |
2024D2026 | 合成プロセスによる蓄電材料の構造・組成制御 | 早稲田大学・川合航右 |
2024D2028 | 電池材料の粉末X線回折測定 | 立命館大学・折笠有基 |
202403083 | シリコンクラスレート生成過程の解明 | 近畿大学・朝倉博行 |
202403091 | 高圧下で合成された微量試料の放射光粉末X線回折測定:Siに富む新規Fe-Si系化合物の高圧合成 | 名古屋大学・佐々木拓也 |
202403104 | 新規誘電体材料の粉末X線回折測定と結晶構造解析 | 名城大学・菅章紀 |
202403114 | 高温超伝導体関連物質のフッ素化に伴う結晶構造変化 | 名古屋大学・浦田隆広 |
202403116 | 極めて低い熱伝導度を示す貴金属-メタロイド化合物の精密X線構造解析 | 豊田工業大学・竹内恒博 |
202403127 | シリカ系誘電体材料の粉末X線回折測定による結晶相の評価 | 名城大学・菅章紀 |
2024D3012 | 次世代蓄電池用酸化物材料の結晶構造解析 | 横浜国立大学・藪内直明 |
202404086 | シリコンクラスレート生成過程の解明2 | 近畿大学・朝倉博行 |
202404092 | 高圧下で合成された微量試料の放射光粉末X線回折測定:(Sr,Ca)AlB3O7:Eu2+蛍光体の高圧合成と結晶構造 | 名古屋大学・佐々木拓也 |
202404102 | チタン酸ナトリウムの構造解析 | 信州大学・田中秀樹 |
202404107 | 量体化系の電場下回折実験 | 名古屋大学・片山尚幸 |
202404114 | バナジウム酸化物電極の粉末回折 | 東京大学・西村真一 |
202404136 | 高エネルギーX線全散乱測定によるバナジン酸リチウム結晶の秩序無秩序性解析 | 東京農工大学・松村圭祐 |
202405029 | X線回折による非貴金属系担持型アンモニア合成触媒の構造解明(Ⅳ) | 名古屋大学・佐藤勝俊 |
202405030 | 欠陥導入した多孔性配位高分子の構造解明 | 京都大学・大竹研一 |
202405044 | 有機系ジンクリッチペイントの耐食性試験後の腐食生成物 | ローバル(株)【愛知県実地研修】 |
202405047 | ハイスループット放射光X線計測治具開発(7) | 東京理科大学・藤本憲次郎 |
202405093 | 高圧下で合成された微量試料の放射光粉末X線回折測定:Eu賦活ゲルマン酸ストロンチウムの高圧合成 | 名古屋大学・丹羽健 |
202405109 | ペロブスカイト関連化合物の構造変化 | 名古屋工業大学・漆原大典 |
202405129 | セラミックス焼結体の精密構造解析 | 名古屋工業大学・宮崎秀俊 |
202405132 | シリカ系誘電体セラミックスの粉末X線回折測定 | 名城大学・菅章紀 |
202405135 | リチウム挿入したバナジウムニオブ酸化物の結晶構造解析 | 東京大学・西村真一 |
202405151 | BiYbEu共添加ダブルペロブスカイト型波長変換材料の開発 | 名古屋工業大学・早川知克 |
202405158 | 複合アニオン型リチウムイオン伝導体の結晶構造解析 | 名古屋大学・矢島健 |
202405178 | 新規複合アニオンハロゲン化物の構造解析 | 京都大学・加藤大地 |
202405182 | 高圧下で合成された微量試料の放射光粉末X線回折測定 | 名古屋大学・佐々木拓也 |
202405185 | 金属粉末の相同定 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
2024D5037 | 蓄電材料の結晶構造解析 | 北海道大学・小林弘明 |
202406009 | 電場下回折実験のセットアップ構築 | 名古屋大学・片山尚幸 |
202406071 | ハロゲン含有リチウムイオン伝導体の放射光X線回折 | 名古屋大学・矢島健 |
202406072 | 複合アニオン型可塑性リチウムイオン伝導体の結晶構造解析 | 名古屋大学・矢島健 |
202406074 | 高圧下で合成された微量試料の放射光粉末X線回折測定 | 名古屋大学・丹羽健 |
202406081 | 負極材料NaSiの粉末X線回折測定 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
BL6N1 (軟X線XAFS・光電子分光 I)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401015 | シリカ粉末の構造解析 | 九州工業大学・本塚智 |
202402011 | 繊維の染着挙動のシンクロトロン光による分析 | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
202402023 | 金属硫化物のレドックス反応分析 | 北海道大学・小林弘明 |
202402033 | polysulfide溶液試料のテンダーX線XAFS測定 | (国研)量子科学技術研究開発機構・佐伯盛久 |
202402034 | SWCNT担持PtPd電極触媒の化学結合状態分析 | 名古屋大学・渡部孝 |
202402049 | キノン分子が担持されたカーボン電極のXAFS測定 | 東北大学・中安祐太 |
2024D2012 | SiをドープしたGaAsのXAFS測定 | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202403016 | Al合金のXAFS測定 | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202403017 | 汚泥に含まれるリンの分析 | 東京農工大学・橋本洋平 |
202403020 | 羊毛の黄変に伴う構造変化のXAFSによる解析 | あいち産業科学技術総合センター【実地研修】 |
202403037 | ゴム材料の硫黄K吸収端XAFS分析 | (一財)化学物質評価研究機構・澤田諭 |
202403052 | 中京化成工業(株)【愛知県実地研修】 | |
202403065 | 中空シリカナノ粒子におけるSiO2の局所構造解析 | 名古屋工業大学・石井健斗 |
202403084 | シリカ粉末の構造解析 | 九州工業大学・本塚智 |
202404016 | 鉱物に含まれるリンの分析 | 東京農工大学・橋本洋平 |
202404033 | Li電池用正極材料の充放電メカニズム解明 | 名古屋工業大学・宮崎怜雄奈 |
202404071 | 単層カーボンナノチューブに内包されたヨウ素の多段階レドックス反応のXAFS分析 | 名古屋工業大学・石井陽祐 |
202404090 | Polysulfideを含む生体分子のXAFS測定 | (国研)量子科学技術研究開発機構・佐伯盛久 |
202404113 | 充放電前後における電極活物質の化学状態解析 | 北海道大学・藤井雄太 |
202405034 | 蓄電材料の硫黄の電子状態分析 | 北海道大学・小林弘明 |
202405043 | 酸化物固体電解質に関する測定 | 名古屋大学・石垣範和 |
202405046 | ガス分子吸着特性に関わる銀ナノ粒子の化学状態 | 名古屋大学・吉田朋子 |
202405082 | 単層カーボンナノチューブに内包されたヨウ素の多段階レドックス反応のXAFS分析2 | 名古屋工業大学・石井陽祐 |
202405094 | 繊維の染着挙動のシンクロトロン光による分析 | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
202405168 | 医薬品原薬共結晶または共非晶質のXAFS測定 | 東邦大学・鈴木浩典 |
202406026 | ガス分子吸着特性に関わる銀ナノ粒子の化学状態 | 名古屋大学・吉田朋子 |
202406045 | タンパク質系有機物のイオウの状態観察 | 名古屋大学・片山新太 |
202406085 | チタン酸塩吸着材の構造評価 | (国研)日本原子力研究開発機構・渡部創 |
BL7U (真空紫外分光)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202402046 | SWCNTとPtPd電極触媒の吸着構造解析 | 名古屋大学・渡部孝 |
202402066 | 角度分解光電子分光による MXenes 単結晶の電子状態の研究 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202402093 | 硫化物固体電解質の粒子表面解析 | 豊橋技術科学大学・引間和浩 |
202402135 | SWCNTとPtPd電極触媒の吸着構造解析ー2 | 名古屋大学・渡部孝 |
2024D2013 | SiをドープしたGaAsのXAFS測定(2) | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202403035 | シリコン基板表面上に吸着した微量高分子の分析 | 名古屋工業大学・山本勝宏 |
202403074 | 単結晶固体電解質LixLa(1-x)/3NbO3の電場印加型角度分解光電子分光 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202403076 | グラフェン/SiC界面構造改質による電子状態変調 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202403109 | 極低温合成a-C:F薄膜の化学結合状態評価(Ⅱ) | 山梨大学・佐藤哲也 |
202403136 | 酸化チタンナノ粒子含有薄膜の吸収分光測定 | NanoZone(株)【愛知県実験研修】 |
202404020 | MXenes単結晶V2CTzの角度分解光電子分光 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202404046 | グラフェン/超伝導炭化物/SiC系および二次元超伝導体の角度分解光電子分光 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202404116 | 高分子フィルムのNEXAFS測定条件の検討 | 住友ベークライト(株)【愛知県実験研修】 |
202405015 | 金属酸化物ハイパーマテリアル超薄膜の創製と構造 | 名古屋大学・柚原淳司 |
202405045 | 単結晶固体電解質LixLa(1-x)/3NbO3の電場印加型角度分解光電子分光 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202405053 | 2次元材料/SiC系試料の角度分解光電子分光測定 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202405148 | Cu薄膜のX線吸収分光測定 | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
202405149 | 極低温合成非晶質カーボン薄膜の化学結合状態評価 | 山梨大学・佐藤哲也 |
202406046 | タンパク質系有機物の窒素の状態観察 | 名古屋大学・片山新太 |
BL8S1 (薄膜X線回折)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202402107 | 歯科用ジルコニアセラミックの残留応力測定 | 東北大学・中村圭祐 |
202402109 | SmFeN粉末の配向度測定 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202402129 ※ | 電気分極したβ型リン酸三カルシウムの結晶構造評価 | 千葉工業大学・橋本和明 |
202403126 | 金属化合物の生成相評価 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202404111 | Sm2Co17ナノ粒子の配向度評価 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202404140 | アルカリハライド基板に形成した金属薄膜の特性評価 | 福井大学・清水啓史 |
202405118 | リチウム空気電池の正極生成物の同定 | お茶の水女子大学・近藤敏啓 |
202405142 ※ | 電気分極したβ型リン酸三カルシウムの結晶構造評価 | 千葉工業大学・橋本和明 |
202405147 | 積層造形されたTi化合物のX線回折測定 | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
202405184 | 永久磁石材料の配向度測定 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202406058 | リチウム空気電池の種々の電解液から生成させた正極生成物の同定 | お茶の水女子大学・近藤敏啓 |
202406083 | 3~5 mol%イットリアで安定化した歯科用ジルコニアの結晶構造 | 東北大学・中村圭祐 |
202406096 | アルカリハライド基板上の金属薄膜の特性評価 | 福井大学・清水啓史 |
2024D6009 | Cr系三元合金薄膜材料のX線回折 | 名古屋大学・水口将輝 |
BL8S2 (X線トポグラフィ・X線CT:愛知県)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401044 | X線サブミクロンイメージング検出器開発のための CMOSカメラの比較 | 名古屋大学・中西恒平 |
202401045 | 金属と樹脂の界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202402089 | 金属と樹脂の界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202402090 | 金属と樹脂の界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202402121 | 【重点_C6】工業材料等のX線CT測定 | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202402123 | CTによるアルミニウム初期充填密度の定量評価 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202402136 | 異種材料界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
2024D2030 | シンクロトロンX線CTを用いたCFRP内部構造の可視化 | 名古屋大学・鎌田慎 |
202403066 | 米の製麹段階の3次元構造解析 | あいち産業科学技術総合センター【実地研修】 |
202403096 | マルチモーダル欠陥解析によるパワーデバイス半導体中のキラー欠陥評価(IV) | 名古屋大学・原田俊太 |
202403100 | 異種材料界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202403101 | 高分解能X線CTによるアトマイズ金属粉末の内部気孔観察とその低減化技術開発 | 名古屋大学・桜井郁也 |
202403106 | 高分子材料の劣化制御研究 | 京都大学・今井友也 |
202403124 | Al焼結体の空隙率評価 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202403132 | X線回折ラミノグラフィー測定系の構築Ⅰ | (一財)電力中央研究所・藤榮文博 |
202404009 | X線CT法による製剤微粒子の内部構造解析 | 東邦大学・野口修治 |
202404058 | 位相コントラストCT法を用いた観察実習 | あいち産業科学技術総合センター・福岡修 |
202404110 | 金属樹脂界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202404115 | X線トポグラフィによるダイヤモンド結晶中の歪評価 | 名古屋大学・原田俊太 |
202404118 | X線回折ラミノグラフィー | (一財)電力中央研究所・藤榮文博 |
202404139 | X線トポグラフィ像によるダイヤモンド中の転位評価 | 名古屋大学・原田俊太 |
202405107 | 高分子界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202405115 | CuSn遷移的液相拡散接合へのBi活用による低消費エネルギ化のメカニズム解明 | 秋田県産業技術センター・黒沢憲吾 |
202405116 | X線回折ラミノグラフィー | (一財)電力中央研究所・藤榮文博 |
202405136 | マルチモーダル欠陥解析によるパワーデバイス半導体中のキラー欠陥評価(Ⅴ) | 名古屋大学・原田俊太 |
202405154 | 触媒内細孔の観察 | 名古屋大学・山田博史 |
202405183 | 金属内部の観察 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202405194 | アナライザ結晶を用いた位相X線CT測定法の開発 | 名古屋大学・桜井郁也 |
202405195 | Talintによる位相画像のBL8S2における測定 | (公財)科学技術交流財団・林杉 |
202406056 | X線回折ラミノグラフィー | (一財)電力中央研究所・藤榮文博 |
202406073 | 放射光光化学反応の反応機構究明と機能性材料の創製と物性研究 | 名古屋大学・桜井郁也 |
202406082 | X線サブミクロンイメージングに向けたシンチレータの比較 | 名古屋大学・中西恒平 |
202406084 | X線トポグラフィによるダイヤモンド結晶中の歪評価 (III) | 名古屋大学・原田俊太 |
202406091 | ダイヤモンド単結晶のトポグラフィ測定II | (公財)科学技術交流財団・花田賢志 |
202406092 | ダイヤモンド単結晶のトポグラフィ測定・歪み測定 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
202406100 | TalintによるBL8S2での実験 | (公財)科学技術交流財団・林杉 |
BL8S3 (広角・小角X線散乱)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
2024D1006 | Li2O-Al2O3-SiO2ガラスの小角X線散乱測定(5) | 東京理科大学・前田敬 |
202402086 | 低温熱処理によるナノ結晶軟磁性前駆体の短距離秩序化の調査 | 名古屋大学・秦誠一 |
202402088 | 急速冷却下のPPの結晶化過程の時分割SAXS測定 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202402092 | アモルファス酸化物ナノシートの形成機構解明 | 名古屋大学・山本瑛祐 |
202403050 | ナノ粒子含有薄膜の斜入射小角散乱測定(実地研修) | NanoZone(株)【愛知県実験研修】 |
202403060 | 毛髪の小角X線散乱測定(実地研修) | (株)ミルボン【愛知県実験研修】 |
202403068 | ゴマペースト中のナノ構造解析 | 岐阜大学・勝野那嘉子 |
202403090 ※ | 複数の天然高分子からなる積層フィルム内の微結晶成長の把握 | 岐阜大学・岩本悟志 |
202405011 | 和小角散乱法によるナノ粒子・球状ドメインの3次元配列様式の解析 | 名古屋工業大学・山本勝宏 |
202405049 | CO2硬化性ポリマーの小角X線散乱による構造解析 | 岐阜大学・三輪洋平 |
202405087 | 複数の天然高分子からなる積層フィルム内の微結晶成長の把握 | 岐阜大学・岩本悟志 |
202405100 | 物理的および酵素的改変した澱粉の糊化挙動解析 | 岐阜大学・勝野那嘉子 |
202405113 | セグメント化ポリウレタンのSAXS測定 | 福井大学・山下義裕 |
202405177 | セメント-水ガラス固化体の固化挙動調査 | (国研)日本原子力研究開発機構・渡部創 |
202405187 | 高分子マトリックス中のフュームドシリカの凝集状態とコンポジット特性 | 三重大学・鳥飼直也 |
2024D5011 | Li2O-Al2O3-SiO2ガラスの小角X線散乱測定(6) | 東京理科大学・前田敬 |
BL11S2 (硬X線XAFS II )
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401004 | 電子収量法による観察深さの検討 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
202401016 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202402004 | 蓄電材料のレドックス反応分析 | 北海道大学・小林弘明 |
202402006 | 2D-XAFS測定でのスペクトル歪の検出 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
202402012 | Yb系熱電材料における価数揺動状態の直接観測 | 豊田工業大学・松波雅治 |
202402026 | 触媒粒子のXAFS測定 | 名城大学・丸山隆浩 |
202402028 | 鉄系超伝導体薄膜NdFeAs(O,H)のXAFS測定 | 名古屋大学・生田博志 |
202402053 | Local Structures of Multicomponent Electrocatalysts | (国研)物質・材料研究機構・坂牛健 |
202402064 | 水電解プロセス用触媒における活性金属種の電子状態解析 | 名古屋大学・佐藤勝俊 |
202402065 | Wドープアナターゼ型TiO2ナノ粒子における遷移金属の電子状態評価 | 三重大学・田港聡 |
202402087 | チタン酸ナトリウムのイオン吸着構造の解析 | 信州大学・田中秀樹 |
202402095 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202402098 | 機能性釉薬中の遷移金属Cuの局所構造評価 | 名古屋工業大学・辛韵子 |
202403005 | 量体化分子系のEXAFS測定 | 名古屋大学・片山尚幸 |
202403007 | Yb系熱電材料における価数揺動の温度依存性 | 豊田工業大学・松波雅治 |
202403010 | 2D法等の高度な手法を含めたXAFS法の理解を深める測定 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
202403023 | アルカリ電池正極材料に対するXAFS測定 | 東京工業大学・池澤篤憲 |
202403024 | Identification of Local Structures for Fe Species | (国研)物質・材料研究機構・坂牛健 |
202403026 | PdCuSiアモルファス薄膜の水素吸放出による構造変化のXAFS分析 | 名古屋大学・小川智史 |
202403038 | 溶融ガラス中パラジウムの挙動解明 | 東京都市大学・佐藤勇 |
202403040 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202403055 | 固定化金属錯体・金属酸化物・金属ナノ粒子触媒のXAFS測定 | 名古屋大学・邨次智 |
202403069 | 水電解プロセス用触媒における活性金属種の電子状態解析(2) | 名古屋大学・佐藤勝俊 |
202404026 | 2D法等の手法を含めたXAFS測定の高度化/自動化 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
202404037 | ホウケイ酸ガラス中の白金族元素の化学形態解明 | 東京都市大学・松浦治明 |
202404057 | Auとcysteineの錯体形成評価 | 早稲田大学・中川鉄馬 |
202404078 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202404087 | XAFS分光法による各種方法で調製したRuナノ粒子の電子状態の解析 | 近畿大学・朝倉博行 |
202404119 | Pd K端XAFSによるPdCuSiアモルファス薄膜の構造分析 | 名古屋大学・小川智史 |
2024D4001 ※ | 蓄電材料のレドックス反応分析 | 北海道大学・小林弘明 |
2024D4004 | サイクル後のMo系酸化物正極材料の硬X線XAFS測定 | 東北大学・河口智也 |
202405006 | 2D法等の手法を含めたXAFS測定の高度化/自動化 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
202405012 | 担持金属クラスター触媒のXAFSによる構造解析 | (国研)理化学研究所・上口賢 |
202405013 | 溶融ガラス中の挙動解明 | 東京都市大学・佐藤勇 |
202405016 | (Nd,Sr)2Ni(O,F)4のXAFS測定 | 名古屋大学・生田博志 |
202405032 | 触媒粒子のXAFS測定 | 名城大学・丸山隆浩 |
202405036 | 水電解プロセス用触媒における活性金属種の電子状態解析(3) | 名古屋大学・佐藤勝俊 |
202405040 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202405048 | 欠陥導入した多孔性配位高分子の構造解明 | 京都大学・大竹研一 |
202405050 | EXAFSによるAg添加B2O3ガラスの局所構造解析 | 名古屋工業大学・木村耕治 |
202405051 | 3~5 mol%イットリアで安定化した歯科用ジルコニアの微細構造分析 | 東北大学・中村圭祐 |
202405056 | アルカリ電池正極材料に対するXAFS測定 | 東京科学大学・池澤篤憲 |
202405077 | チタン酸ナトリウムのイオン吸着構造の解析 | 信州大学・田中秀樹 |
202405088 | 固定化金属錯体・金属酸化物・金属ナノ粒子触媒のXAFS測定 | 名古屋大学・邨次智 |
202405139 | 溶融ガラス中パラジウムの挙動解明 | 東京都市大学・佐藤勇 |
2024D5036 | 蓄電材料の電子状態解析 | 北海道大学・小林弘明 |
2024D5040 | 1段階合成層状複水酸化物の局所構造解析 | 信州大学・林文隆 |
2024D5042 | 硬X線XAFSによる鉄化合物の依頼測定 | (国研)産業技術総合研究所・谷口有沙子 |
202406004 | 担持金属クラスター触媒のXAFSによる構造解析 | (国研)理化学研究所・上口賢 |
202406008 | X線吸収分光によるアンモニア合成触媒の活性点構造解明(Ⅶ) | 名古屋大学・佐藤勝俊 |
202406010 | Eu系新物質のXAFS測定 | 富山大学・松本裕司 |
202406019 | in situ 2DXAFSを利用した水素スピルオーバーダイナミクスの評価 | 大阪大学・森浩亮 |
202406059 | ハイスループット放射光X線計測治具開発(6) | 東京理科大学・藤本憲次郎 |
202406102 | 2D法等の手法を含めたXAFS測定の高度化/自動化 | 名古屋大学・田渕雅夫 |