2024度 公共等利用 成果報告書
※印 は公開延期申請
BL1N2 (軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
BL2S1 (単結晶X線回折:名古屋大学)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
2024N1001 | 超高圧合成における高配位構造の探索と凍結性に関する研究 | (国研)物質・材料研究機構・遊佐斉 |
2024N1002 | 超高圧下で合成された微小試料の常圧および高圧その場回折測定 | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N1003 | 回折X線明滅法を用いた結晶格子の動態温度依存性評価 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N1004 | シトクロム酸化酵素の反応機構解明 | 岐阜大学・島田敦広 |
2024N2001 | 超高圧下で合成された微小試料の常圧および高圧その場回折測定 | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N2002 | 超高圧合成における高配位構造の探索と凍結性に関する研究 | (国研)物質・材料研究機構・遊佐斉 |
2024N2003 | バナデートの電場印加時のX線回折 | 名古屋大学・片山尚幸 |
2024N2004 | 回折X線明滅法を用いた粉末結晶体の相転移観察 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N2005 | 新規形状をもつ人工設計タンパク質の構造決定 | 名古屋大学・千見寺浄慈 |
2024N2006 | 高圧力下における水素結合性結晶の構造変化-ガスハイドレートのケージ占有性-その1 | 岐阜大学・佐々木重雄 |
2024N2007 | バナデートの電場下回折実験 | 名古屋大学・片山尚幸 |
2024N2008 | 圧力などの外部刺激を利用した蛋白質結晶構造解析 | 東京薬科大学・永江峰幸 |
2024N3001 | バナデートの電場下回折実験2 | 名古屋大学・片山尚幸 |
2024N3003 | 超高圧下で合成された微?試料の常圧および高圧その場回折測定 | 名古屋大学・丹羽健 |
2024N3004 | 回折X線明滅法をお用いた粉末結晶体の相転移観察その2 | 東京大学・佐々木裕次 |
2024N3005 | 水素を構成元素とする分子性固体の高圧力下における構造変化VI | 岐阜大学・坂田雅文 |
2024N3006 | アクチンと結合タンパク質のX線結晶構造の解明 | 名古屋大学・武田修一 |
2024N3009 | アルテミシジン生合成における新規スルホンアミド合成酵素の立体構造解析 | 東京大学・森貴裕 |
2024N3010 | アクチンと結合タンパク質のX線結晶構造の解明 | 名古屋大学・武田修一 |
BL5S1 (硬X線XAFS I )
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401002 | ZrO2のK-edge EXAFS測定 | 名古屋大学・片山尚幸 |
202401006 | 電気炉スラグ中に含まれるCrの存在形態解析 | 早稲田大学・成田麻子 |
202401018 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202401026 | SWCNT担持Pt電極触媒のin situ化学結合状態分析 | 名古屋大学・渡部孝 |
202401028 ※ | 日本各地の水田土壌を培養した時の無機ヒ素の化学形態変化の比較 | (国研)農業・食品産業技術総合研究機構・須田碧海 |
2024D1001 | 多型二酸化マンガンの電子状態分析 | 北海道大学・小林弘明 |
202402014 | 【重点_C6】Cu K吸収端エネルギーの経時変化 | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202402019 | 腐食鋼材の硬X線XAFS測定 | あいち産業科学技術総合センター・福岡修 |
202402021 | As(V)・As(III)共存下でのフェリハイドライトによるAsの除去メカニズムの解明 | 早稲田大学・成田麻子 |
202402029 | 酸素欠損チタニア系の前駆体のH2雰囲気加熱による性状変化 | 東京都立産業技術研究センター・染川正一 |
202402037 ※ | 鉄の価数測定 | (公財)東洋食品研究所・稲田有美子 |
202402039 | 石炭灰中微量含有物質の化学的存在状態解明 | 東京都市大学・松浦治明 |
202402050 | 水田土壌に含まれる鉄の化学状態解析 | 名古屋大学・髙濵謙太朗 |
202402078 | 亜鉛電解液の溶液構造解析 | 東京大学・西村真一 |
202402114 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202402115 | 部分安定化ジルコニアのXAFS解析 | 共立マテリアル(株)【愛知県実地研修】 |
2024D2024 | 元素置換型チタン酸ナトリウム結晶のフラックス育成とその金属イオン交換特性評価 | 信州大学・TipplookMongkol |
202403029 | 鉄系超伝導体薄膜NdFeAs(O,H)薄膜のXAFS測定 | 名古屋大学・生田博志 |
202403033 | 腐食鋼材の硬X線XAFS測定 | あいち産業科学技術総合センター・福岡修 |
202403034 | 改質した酸素欠陥型酸化チタンの物性解析 | 東京都立産業技術研究センター・染川正一 |
202403036 | 電気パルスにより剥離したリチウムイオン電池正極活物質の解析 | 早稲田大学・成田麻子 |
202403047 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202403051 | フッ化物正極材料の充放電メカニズム解明 | 名古屋工業大学・宮崎怜雄奈 |
202403056 | 還元状態のセレン・ヒ素のエネルギーシフトの原因について | 岐阜大学・香川雅子 |
202403070 | 機械式混合による触媒酸化の調査 | 東京都立産業技術研究センター・柳田さやか |
BL5S2 (粉末X線回折)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401025 ※ | CHAゼオライトの低温XRD測定 | 富山大学・田口明 |
202401048 | 層状ペロブスカイト化合物の温度変化を伴う構造解析 | 岡山大学・狩野旬 |
2024D1009 | 充放電サイクルにともなう層状酸化物正極の結晶構造変化 | 早稲田大学・川合航右 |
2024D1011 | 次世代蓄電池用酸化物材料の結晶構造解析 | 横浜国立大学・藪内直明 |
202402061 ※ | Li酸素電池放電生成物のX線回折測定 | 大阪大学・長谷陽子 |
202402079 | 高圧下で合成された微量試料の放射光粉末X線回折測定 | 名古屋大学・佐々木拓也 |
202402100 | 酸化物リチウムイオン伝導体の結晶構造解析 | 名古屋大学・矢島健 |
2024D2008 | 層状複水酸化物のイオン交換挙動の理解 | 信州大学・林文隆 |
2024D2023 | MoTe2およびAgxMoTe2の結晶構造解析 | (国研)産業技術総合研究所・藤岡正弥 |
2024D2026 | 合成プロセスによる蓄電材料の構造・組成制御 | 早稲田大学・川合航右 |
2024D2028 | 電池材料の粉末X線回折測定 | 立命館大学・折笠有基 |
202403083 | シリコンクラスレート生成過程の解明 | 近畿大学・朝倉博行 |
202403091 | 高圧下で合成された微量試料の放射光粉末X線回折測定 | 名古屋大学・佐々木拓也 |
202403104 | 誘電体セラミックスの粉末X線回折測定 | 名城大学・菅章紀 |
202403114 | 高温超伝導体関連物質のフッ素化に伴う結晶構造変化 | 名古屋大学・浦田隆広 |
202403116 | 極めて低い熱伝導度を示す貴金属-メタロイド化合物の精密X線構造解析 | 豊田工業大学・竹内恒博 |
202403127 | シリカ系誘電体セラミックスの粉末X線回折測定 | 名城大学・菅章紀 |
2024D3012 | 次世代蓄電池用酸化物材料の結晶構造解析 | 横浜国立大学・藪内直明 |
BL6N1 (軟X線XAFS・光電子分光 I)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401015 | シリカ粉末の構造解析 | 九州工業大学・本塚智 |
202402011 | 繊維の染着挙動のシンクロトロン光による分析 | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
202402023 | 金属硫化物のレドックス反応分析 | 北海道大学・小林弘明 |
202402033 | polysulfide溶液試料のテンダーX線XAFS測定 | (国研)量子科学技術研究開発機構・佐伯盛久 |
202402034 | SWCNT担持PtPd電極触媒の化学結合状態分析 | 名古屋大学・渡部孝 |
202402049 | 超臨界二酸化炭素(scCO2)を媒体とした活性炭(AC)内への超臨界含浸法により極性有機分子が担持されたカーボン電極の測定 | 東北大学・中安祐太 |
2024D2012 | SiをドープしたGaAsのXAFS測定 | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202403016 | Al合金のXAFS測定 | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202403017 | 汚泥に含まれるリンの分析 | 東京農工大学・橋本洋平 |
202403020 | 羊毛の黄変に伴う構造変化のXAFSによる解析(実地研修) | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
202403037 | ゴム材料の硫黄K吸収端XAFS | (一財)化学物質評価研究機構・澤田諭 |
202403052 | 【実地研修】鋼球の軟X線XAFS測定 | あいち産業科学技術総合センター・福岡修 |
202403065 | 重点C9_ナノ中空シリカ粒子におけるSiO2の局所構造解析(3) | 名古屋工業大学・石井健斗 |
202403084 | シリカ粉末の構造解析 | 九州工業大学・本塚智 |
BL7U (真空紫外分光)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202402046 | SWCNTとPtPd電極触媒の吸着構造解析 | 名古屋大学・渡部孝 |
202402066 | 角度分解光電子分光による MXenes 単結晶の電子状態の研究 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202402093 | 硫化物固体電解質の粒子表面解析 | 豊橋技術科学大学・引間和浩 |
202402135 | SWCNTとPtPd電極触媒の吸着構造解析ー2 | 名古屋大学・渡部孝 |
2024D2013 | SiをドープしたGaAsのXAFS測定(2) | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202403035 | シリコン基板表面上に吸着した微量高分子の分析 | 名古屋工業大学・山本勝宏 |
202403074 | 単結晶固体電解質LixLa(1-x)/3NbO3の電場印加型角度分解光電子分光 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202403076 | グラフェン/SiC界面構造改質による電子状態変調 | 名古屋大学・伊藤孝寛 |
202403109 | 極低温合成a-C:F薄膜の化学結合状態評価(Ⅱ) | 山梨大学・佐藤哲也 |
202403136 | 酸化チタンナノ粒子含有薄膜の吸収分光測定(実地研修) | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
BL8S1 (薄膜X線回折)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202402107 | 歯科用ジルコニアセラミックの残留応力測定 | 東北大学・中村圭祐 |
202402109 | 金属材料の相解析 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202402129 | 分極したβ型リン酸三カルシウムの結晶構造評価 | 千葉工業大学・橋本和明 |
202403126 | 金属化合物の生成相評価 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
BL8S2 (X線トポグラフィ・X線CT:愛知県)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401044 | X線サブミクロンイメージング検出器開発のための CMOSカメラの比較 | 名古屋大学・中西恒平 |
202401045 | 金属と樹脂の界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202402089 | 金属樹脂界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202402090 | 金属樹脂界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202402121 | 【重点_C6】工業材料等のX線CT測定 | (公財)科学技術交流財団・岡島敏浩 |
202402123 | Al焼結体の内部構造観察 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202402136 | 異種材料界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
2024D2030 | CFRPの測定 | 名古屋大学・鎌田慎 |
202403066 | 米の製?段階の3次元構造解析(実地研修) | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
202403096 | マルチモーダル欠陥解析によるパワーデバイス半導体中のキラー欠陥評価(IV) | 名古屋大学・原田俊太 |
202403100 | 異種材料界面の観察 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202403101 | 高分解能X線CTによるアトマイズ金属粉末の内部気孔観察とその低減化技術開発 | 名古屋大学・桜井郁也 |
202403106 | 高分子材料の劣化制御研究 | 京都大学・今井友也 |
202403124 | CTによる焼結体の組織観察 | (国研)産業技術総合研究所・平山悠介 |
202403132 | X線回折ラミノグラフィー | (一財)電力中央研究所・藤榮文博 |
BL8S3 (広角・小角X線散乱)
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
2024D1006 | LASガラスの散乱測定(5) | 東京理科大学・前田敬 |
202402086 | 低温熱処理によるナノ結晶軟磁性前駆体の短距離秩序化の調査 | 名古屋大学・秦誠一 |
202402088 | 急速冷却下のPPの結晶化過程の時分割SAXS測定 | 金沢大学・瀧健太郎 |
202402092 | アモルファス酸化物ナノシートの形成機構解明 | 名古屋大学・山本瑛祐 |
202403050 | ナノ粒子含有薄膜の斜入射小角散乱測定(実地研修) | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
202403060 | 毛髪の小角X線散乱測定(実地研修) | あいち産業科学技術総合センター・杉山信之 |
202403068 | SAXSによるゴマペースト中の微細構造の解析 | 岐阜大学・勝野那嘉子 |
202403090 | 複数の天然高分子からなる積層フィルム内の微結晶成長の把握 | 岐阜大学・岩本悟志 |
BL11S2 (硬X線XAFS II )
実験番号 | 実験名 | 所属・実施責任者 |
202401004 | 電子収量法による観察深さの検討 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
202401016 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202402004 | 蓄電材料のレドックス反応分析 | 北海道大学・小林弘明 |
202402006 | 2D法等の手法を含めたXAFS測定の高度化/自動化 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
202402012 | Yb系熱電材料における価数揺動状態の直接観測 | 豊田工業大学・松波雅治 |
202402026 | 触媒粒子のXAFS測定 | 名城大学・丸山隆浩 |
202402028 | 鉄系超伝導体薄膜NdFeAs(O,H)のXAFS測定 | 名古屋大学・生田博志 |
202402053 | Local Structures of Multicomponent Electrocatalysts | (国研)物質・材料研究機構・坂牛健 |
202402064 | 水電解プロセス用触媒における活性金属種の電子状態解析 | 名古屋大学・佐藤勝俊 |
202402065 | Wドープアナターゼ型TiO2ナノ粒子における遷移金属の電子状態評価 | 三重大学・田港聡 |
202402087 | チタン酸ナトリウムのイオン吸着構造の解析 | 信州大学・田中秀樹 |
202402095 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202402098 | XAFSを用いた機能性釉薬の化学構造解析 | 名古屋工業大学・辛韵子 |
202403007 | Yb系熱電材料における価数揺動の温度依存性 | 豊田工業大学・松波雅治 |
202403010 | 2D法等の手法を含めたXAFS測定の高度化/自動化 | 名古屋大学・田渕雅夫 |
202403023 | アルカリ電池正極材料に対するXAFS測定 | 東京工業大学・池澤篤憲 |
202403024 | 多元素電極触媒解析 | (国研)物質・材料研究機構・坂牛健 |
202403026 | PdCuSiアモルファス薄膜の水素吸放出による構造変化のXAFS分析 | 名古屋大学・小川智史 |
202403038 | ファイン合金の構造解析 | 東京都市大学・佐藤勇 |
202403040 | 原子スケール触媒の設計とXAFSによる活性点の構造解析 | 名古屋大学・織田晃 |
202403055 | 固定化金属錯体・金属酸化物・金属ナノ粒子触媒のXAFS測定 | 名古屋大学・邨次智 |
202403069 | 高活性なCO2水素化反応用触媒の開発を目指したXAFSによる活性点の状態解析 | 名古屋大学・佐藤勝俊 |