あいちシンクロトロン光センターにおける測定代行の実施について 2020

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測定代行の概要

測定代行は、お預かりした試料をセンターのスタッフが代行して測定するサービスです。

本サービスは、遠隔地、専門の研究スタッフが不足、繰り返し測定などを効率的に実施したい、放射線業務従事者登録が困難な場合など、測定を委託したい利用者などの利便性を図るべく実施するものです。

　

利用募集する測定手法

測定手法【ビームライン】
硬X線XAFS　【BL5S1】，【BL11S2】
粉末X線回折　【BL5S2】
軟Ｘ線XAFS（He大気圧下・真空下）　【BL6N1】
軟X線XAFS（超高真空下）　【BL7U】，【BL1N2】　
薄膜X線回折・反射率　【BL8S1】　
広角・小角Ｘ線散乱　【BL8S3】　
単結晶X線回折　【BL2S1】

　※  測定手法［ビームライン］の詳細はこちらをご覧ください。

 

測定試料と測定環境等

測定試料について

原則、次のとおり測定手法ごとに調製した試料とします。　（ 要 事 前 相 談　【様式A】 ）　

測定手法（BL） 測定試料
硬X線XAFS 最適濃度に調整したペレット状サンプル
粉末X線回折 Φ＝0.5mm以下のキャピラリーサンプル（封切済）
軟X線XAFS (6N1)　（He大気圧下・真空下）
粉末又は短冊状サンプル 
軟X線XAFS (1N2，7U) （超高真空下）
粉末・板状
薄膜X線回折 (8S1) シート状，板状，基板，粉末（平板ホルダー）
小角X線散乱 (8S3)  粉末状，シート状
単結晶X線回折（2S1） 0.1mm以上の単結晶・サンプルループにマウントした状態

 

測定試料の調製について

測定試料の調製は利用者がおこなうものとします。調製方法が判らない場合は、「様式A：測定代行相談フォーム」の試料調製方法の相談欄を 要相談 としてください。個別指導が必要な場合、利用時間に計上しご利用頂きます。

測定環境について　（ご相談ください）

  • 粉末Ｘ線回折は、大気圧室温環境下での測定

  • 軟X線 真空下、超高真空下XAFSは、室温環境下での測定

  • 薄膜X線回折、小角X線散乱は、大気中室温環境下での測定

 

測定代行の利用区分と利用料等

 利用区分について

利用区分 内容
一般利用
一般企業の利用を対象
利用者の所属、氏名、実験名、成果等、利用に係る一切の情報を非公開
中小企業利用
中小企業の利用を対象
利用者の所属、氏名、実験名、成果等、利用に係る一切の情報を非公開

中小企業とは、中小企業基本法に定める中小企業者又は法人格を有する中小企業者の団体。
ただし、大企業又はその役員から２分の１以上の出資を受けている企業は除きます。
中小企業基本法に定める中小企業者の定義の詳細はこちら
 
公共等利用
大学、公設試験研究所等の利用を対象
成果公開を前提とし、実験番号ごとに成果報告書（様式7）の提出が必要
成果報告書を提出しない（成果を非公開にしたい）場合は、「一般利用」での利用が可能
 
 ＊「公共等利用」 は、実験番号ごとに実施日から50日以内に成果報告書（様式7号の1）を提出してください。
 

利用料金



※測定代行につきましては、トライアル利用の枠はございません。

利用時間単位について

利用時間は1 時間 単位です。

 

利用申込手続き　

利用相談

利用申込の前に「測定代行相談フォーム（様式Ａ）」に必要事項を記入の上、測定代行窓口に提出してください。
同フォームをもとに、実施内容、測定手法、利用時間等について相談をおこないます。
実施内容が決まりましたら、「実施内容確認書（様式Ｂ）」をセンターで作成し、利用者に送付致します。
書式のダウンロードはこちら

ご希望時に測定代行を実施するビームタイムが既に無い場合もありますので、コーディネータにお問い合わせください。

利用申込書の提出

「実施内容確認書(様式B）」の内容を確認の上、
「利用申込書（測定代行）（様式第1号の2）」と「同意書（測定代行）（様式第4号の2）」に必要事項を記入し、
測定代行窓口へ提出してください。
※代行実施予定日から平日３日前までに提出してください。

書式のダウンロードはこちら
※今年度より、様式の変更がございます。必ず最新版をお使いください。

試料の安全審査終了後、センターから利用者に「利用承認書（測定代行）（様式第2号の2）」を送付します。

●申込者の連絡先の取り扱いについて
記載頂いた連絡先については、当センターが利用促進のために実施する各種事業のご案内の他、利用者のご意見・ご要望を伺うアンケート調査に使用する場合があります。

 

測定試料の提供

利用の承諾を受けた利用者は、測定試料を測定代行窓口に送付又は持参してください。なお、粉末Ｘ線回折を利用の場合は、必要な場合専用のアタッシュケースをセンターから送付します。測定試料およびアタッシュケース等の送料は利用者負担となります。

 

測定データ等の送付

測定終了後おおむね10日以内に、測定結果等を記載した「実施報告書（様式Ｃ）」、および電子媒体に収納した「測定データ」を測定試料とともにお返しします。なお、測定データ等の発送日は測定内容や利用状況により変動があります。

 

利用料の支払い

測定データ等の発送と併せて、センターから請求書を送付します。請求書発行日の翌月末までに利用料をお支払いください。

 

提出方法

E-mail、FAX、郵送又は持参

 

成果報告書の提出（公共等利用） 

成果報告書の提出

「公共等利用」の区分でご利用いただいた場合、実験番号ごとに実施日から５０日以内に成果報告書（様式第７号の1）を提出してください。成果報告書とは、利用で得られた成果の概要を、図表等を用いてレポートとして取りまとめたもので、活用事例として公開させていただきます。ただし、特許取得を意図しているなどの理由により公開の延期を希望する場合、当センターとの協議により、公開の範囲、公開の時期等を別に定めることができます。公開の猶予は最長２年間となります。成果報告書の提出に合わせて、成果公開延期申請書を提出してください。
書類のダウンロードはこちら

 

測定代行提出窓口

E-mail daiko@aichisr.jp
FAX 0561－21－1652
郵送、持参

〒489－0965

愛知県瀬戸市南山口町２５０番３　「知の拠点あいち」内

あいちシンクロトロン光センター　「測定代行」 宛

 

特記事項

成果の公開のお願い

「一般利用」及び「中小企業利用」の場合は、成果の公開は必ずしも必要としませんが、利用者の方々のご了解を前提として、成果の公開をお願いする場合があります。公開する成果は、事例集等に掲載し、新規利用者の拡大のために活用させていただきます。公開時期、公開する範囲等については、利用者の方々とご相談の上、決定させていただきます。

 

成果発表の報告のお願い

論文、受賞、プレスリリース、講演、寄稿などにより発表する場合は、当センターにおける活用又は成果であることの明記をお願いするとともに、別刷り、記事の写し、プレス発表資料等を随時送付していただきますようお願いします。


公開特許の報告のお願い

本サービスの利用に伴い発生した知的財産は、原則として利用者に帰属します。特許を出願し、公開特許公報により特許が公開された場合、公開特許公報の写しを随時送付していただきますようお願いします。

 

各種問い合わせ先

住所

〒489－0965

愛知県瀬戸市南山口町２５０番３　「知の拠点あいち」内
担当

あいちシンクトロン光センター　産業利用コーディネータ
TEL 0561-76-8330
E-mail aichisr@aichisr.jp