Ｘ線分析研究懇談会第266回例会を開催いたします。今回は，放射光X線を用いた研究の講演に加え，「あいち産業科学技術総合センター」の計測・分析設備および「あいちシンクロトロン光センター」の見学も行います。
懇談会会員・非会員を問わず、多くの方のご参加をお待ちしております。
主催：日本分析化学会 X線分析研究懇談会
協賛：あいちシンクロトロン光センター シンクロトロン光利用者研究会
概要
日時 2019 年 1 月 22 日（火）13:00 ～ 16:00
場所 あいち産業科学技術総合センター 1F 講習会室A
プログラム
- 講演1 ＜13:00 ～ 13:30＞ 福岡 修 （あいち産業科学技術総合センター）
「X線トポグラフィ技術を用いた単結晶基板の広範囲欠陥観察 （あいちSR – BL8S2）」
- 講演2 ＜13:30 ～ 14:00＞ 井田 隆 （名古屋工業大学 先進セラミックス研究センター）
「通常光源とシンクロトン光源を用いた粉末Ｘ線回折」
- 講演3 ＜14:00 ～ 14:30＞ 吉田 朋子 (大阪市立大学 複合先端研究機構）
「機能性材料キャラクタリゼーションへのXAFS応用（あいちSRでの測定結果を中心に）」
- 講演4 ＜14:30 ～ 15:00＞ 飯原 順次 （住友電気工業（株） 解析技術研究センター）
「住友電工の放射光利用の現状」
－休憩－＜15:00 ～ 15:15＞
- 見学会 ＜15:15 ～ 16:00＞
あいち産業科学技術総合センター・計測分析室／あいちシンクトロトン光センター
参加費 無料
参加申込み方法
2019年１月18日(金) までに メール にてご連絡をお願いします。
メールの件名は，「266回例会」としてください。
あいちシンクロトロン光センター 上原 康