薄膜X線回折・散乱および小角X線散乱の入門から利用まで
| 日 時 | 2019年1月28日(月)13:00～16:30 |
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愛知県産業労働センター「ウインクあいち」 18階 セミナールーム
ウインクあいちHP : http://www.winc-aichi.jp/
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| 主 催 | （公財）科学技術交流財団あいちシンクロトロン光センター |
| 協 賛 |
（公財）高輝度光科学研究センター、光ビームプラットフォーム
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| 後 援 |
愛知県、SPring-8利用推進協議会
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概要
シンクロトロン光の使いどころを分かりやすくご説明します。
さまざまなシンクロトロン光施設で産業分野の利用実験が活発に行われています。そこで、本年度から興味はあるが、未だご利用されていない産業界の方々を主な対象にして、分野毎に企画した「シンクロトロン光産業利用セミナー」を継続的に開催することにしました。
第2回は、薄膜Ｘ線回折・散乱および小角Ｘ線散乱を中心にして、どのような利用実験ができるかなどを具体的にご紹介します。皆様には、それぞれの測定技術の特徴をご理解いただき、興味から利用へと一歩踏み出す一助となることを期待しています。なお、セミナー終了後に具体的な利用に向けての個別利用相談も受け付けます。
プログラム
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1. 挨拶
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13：00～13：10
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2. 薄膜X線回折・散乱技術入門とSPring-8での利用事例紹介
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高輝度光科学研究センター
小金澤 智之
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13：10～13：55
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3. BL8S1：ビームラインの紹介と測定事例
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あいちシンクロトロン光センター
山本 健一郎
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13：55～14：25
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4. 休憩
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（15分）
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14：25～14：40
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5. 小角Ｘ線散乱技術入門とソフトマテリアルの構造解析実施例
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名古屋工業大学
山本 勝宏
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14：40～15：25
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6. BL8S3：小角・広角Ｘ線散乱測定の紹介
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あいちシンクロトロン光センター
杉山 信之
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15：25～15：55
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7. 斜入射測定を利用した導電性高分子薄膜の深さ方向解析
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名古屋大学
永野 修作
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15：55～16：30
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8. 個別利用相談
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会場：ウインクあいち15階
研究交流センター
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16：30～17：30
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申込方法
WEB申込みは終了します。
当日会場でも受け付けますので直接お越しください。
| ●個人情報の取り扱いについて 記載頂いた連絡先については、当センターが利用促進のために実施する各種事業のご案内の他、利用者のご意見・ご要望を伺うアンケート調査に使用する場合があります。 |
お問い合わせ
セミナー担当：内容等に関するお問い合わせについて
(公財)科学技術交流財団
担当： 砥綿、渡辺
e-mail ： aichisr-workshop＠astf.or.jp
案内チラシ （PDFファイルダウンロード）