BL1N2 軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱビームラインに関するお知らせ

軟X線XAFS・光電子分光Ⅱビームライン<BL1N2>の光学系の調整が終了致しましたのでお知らせ致します。
また、計測ノイズについても対策致しました。
さらに、新規の回折格子(Grating 1)の調整も完了したため、低エネルギー領域(エネルギー範囲:500~1000eV)での実験も可能となりました。これにより測定可能な元素が増え、酸素や新たな遷移金属が測定いただけます。利用可能なエネルギー範囲の光の強さのグラフ(図1)と、対象元素(図2)は、以下の通りです。

ご利用については、随時コーディネータがお受け致しますのでお問い合わせください。

 

                     図1.利用可能なエネルギーとその光の強さのグラフ

 

                   図2. 今回測定可能となった元素を緑の四角で示す