基盤産業支援セミナー「結晶の分析・評価」～シンクロトロン光によって見えるもの～
「知の拠点あいち」のあいちシンクロトロン光センターは、物質の組成等を分子や原子レベルで解析できる、次世代のモノづくりに不可欠なナノレベルの先端計測分析施設で、県内外の様々な産業分野の企業、大学及び公的試験研究機関の方々にご利用いただいています。
このたび、シンクロトロン光を活用した分析の中でＸ線回折に焦点をあてた講演会を開催します。
Ｘ線回折は結晶の成分の同定や定量、サイズ、構造等を分析・評価する際の最も有力な分析手法の一つで、実験室に設置可能な装置でも測定できる分析手法であり、シンクロトロン光を利用して測定することのメリットやシンクロトロン光に適した測定方法など、事例を交えてご紹介します。
主催 ： 愛知県 共催 ： (公財)科学技術交流財団・愛知工研協会
概要
【日時】 2017年12月5日（火）13：30～16：30 （13：15受付開始）
【場所】 愛知県産業労働センター（ウインクあいち） 9階 906会議室（名古屋市中村区名駅4-4-38） アクセス
【定員】 30名 （申込先着順）
【参加費】 無料
【申込方法】 下記URLから申込書をダウンロードし、必要事項を記入の上、FAX、郵送またはE-mailでお申し込みください。
【申込期限】 2017年12月1日(金)
【プログラム】
| 13：30～13：35 |
開会挨拶
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13：35～14：55
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「量子ビームを用いた材料構造解析」
株式会社日産アーク デバイス解析部デバイス解析室 室長 伊藤 孝憲 氏 内容：放射光、中性子等の量子ビームを用いた材料の構造解析について
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| 14：55～15：10 |
休憩
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15：10～16：30
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「放射光X線トポグラフィーによる半導体結晶の欠陥評価」
名古屋大学 講師 原田 俊太 氏 内容：シンクロトロン光を活用したＸ線トポグラフィーについて
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【問合せ先・申込み先】
あいち産業科学技術総合センター 共同研究支援部 シンクロトロン光活用推進室
住所：〒470-0356 豊田市八草町秋合1267-1
電話：0561-76-8315 FAX：0561-76-8317
電話：0561-76-8315 FAX：0561-76-8317
E-mail: BL-riyou@chinokyoten.pref.aichi.jp