第 4 回 XAFS グループ 利用者研究会
2016年 2月24日，3月3，11日の3日間にわたり，XAFS グループの2015年度第 4 回 SR利用者研究会を開催いたします。
先回（第3回）と同様に、軟X線ビームラインBL1N2において，XANESスペクトル測定の実地研修を行います。
概要
場所： 知の拠点あいち あいちシンクロトロン光センター BL1N2
対象： あいちシンクロトロン光センターにおける 軟X線XAFSに関心のある方
定員： 3グループ程度
参加費： 無料
主催 ： 大学連合（名古屋大学，名古屋工業大学，豊橋技術科学大学，豊田工業大学）
愛知県
公益財団法人科学技術交流財団
協賛 ：光ビームプラットフォーム
実施日
2016年 2月24日（水） 10：00-18：00 第1グループ
2016年 3月 3日（木） 10：00-18：00 第2グループ
2016年 3月11日（金） 10：00-18：00 第3グループ
諸注意
- 公共等利用の枠で実施しますので、成果報告書の提出が必要です。
- 全電子収量法あるいは蛍光収量法によるXANESスペクトル測定です。
- 対象元素は、K吸収端でNa・Mg・Al・Siです。
- ご希望の方は、WEB申込みよりエントリーをお願いします。
- 内容を確認後、参加者を決定します。
- 参加には放射線従事者登録が必要です。
- 参加者決定後、面談あるいは電子メールでの打合せをおこないます。
申込み方法
締め切りました。
お問い合わせ先
あいちSR SR利用者研究会 砥綿 mail