第3回 X線回折散乱グループ の利用者研究会を開催します。
AichiSR BL8S1 での実地研修になります。
参加費：無料
日時 2014年 2月 28日(金) 10:00 - 17:00
場所 知の拠点あいち あいちシンクロトロン光センター BL8S1
参加条件 AichiSRにて板状、薄膜のX線回折、散乱、反射率測定を予定されている方（未実施の方優先）
実験条件 4インチ以下の平板状サンプル 波長 1.35Å （固定）
サンプルについて 申込の際に概要を記入してください。参加決定後、詳細を相談します。
定員 2グループまで
申込み期限 2014年 2月10日（月）
詳細及び申込みはWEBからお願いします。