第2回 XRDグループ の利用者研究会を開催します。
参加費：無料
平成25年度第2回のXRDグループ研究会では，日亜化学工業の川村さま、株式会社リガクの表様より薄膜材料のX線回折散乱、反射率などの測定事例について紹介頂きます。
日時 2013年12月4日(水) 13:30 - 17:00 (受付 13:00 より)
場所 知の拠点あいち あいちシンクロトロン光センター 2F 会議室
対象 薄膜のX線回折、散乱、反射率測定に興味のある方
定員 25名程度
詳細及び申込みはWEBからお願いします。