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5. 【参加募集】あいちSR研修会／SPring-8研修会 施設横断合同研修会 2020

「XAFS測定研修会　－硬X線と軟X線の使い分け－」

１．期間・場所・主催等

２．研修会の概要

　現在、国内で稼働中の複数の施設で産業分野の放射光実験が行われていますが、放射光産業利用の一層の普及・深化のためには、それぞれの施設の性能や利用制度の特徴を活かした利用促進が効果的です。そこで、施設横断的な利用促進、人材育成並びに標準化活動の一環として、ユーザーと支援研究者のための施設横断合同研修会を、科学技術交流財団と高輝度光科学研究センターが協力して開催します。

　XAFS（X線吸収微細構造）は、放射光と共に発展してきたといっても過言ではない材料解析手法で、触媒や電池などの工業材料、土壌や水などの環境物質、更には考古学まで広範な分野で利用が進んできましたが、「自分が使ったことがある施設或いはビームラインで測定可能な範囲」にとどまっていることが多いように見受けられます。一方で、電池材料の正極と負極それぞれに含まれる元素の解析を硬・軟X線を使い分けて行う、触媒材料のXAFS解析をK吸収端とL吸収端の両方から解析するなど、多面的な利用も少しずつですが増加しており、複数の施設・ビームラインを使い分けることで、多くの有用な情報が得られることが期待されます。

　今回の研修会は、一つの材料に対してSPring-8の硬X線、AichiSRの軟（テンダー）X線といった異なったエネルギー領域でのXAFS測定から、どういった情報が得られるかを体験いただくことを目的としています。AichiSRでの測定実習は、1.7 keV ～ 5 keVのエネルギー領域を対象に、BL6N1において実施します。

　なお、SPring-8で測定可能なエネルギー領域は、5 keV以上です。SPring-8での研修会の詳細は、こちらを参照ください。

３．プログラム

• 実習は全グループ合同で実施します。
• 1グループあたり持ち時間は約1.5時間（2～3個程度の試料の測定と解析）を予定しています。
• 研修会実施後，公開報告書を作成します。報告書は，実習で得られたデータを用いて事務局が作成し，実験参加者の確認をいただいた後にWeb公開します。

４．その他

対象

　XAFSによる材料解析を行っている方，行おうとしている方（初心者，経験者問わず）

　AichiSR（12月8日）及びSPring-8（2021年2月2日）で開催する両研修会に参加できる方が望ましいが，一方のみ利用経験がある方は別施設のみの参加も歓迎

募集定員

　4グループ（1グループ3名以内）

申込締切

　2020年11月27日（金）17：00　（参加希望者多数の場合は，締切日以前に募集を終了することがあります。）

　申込みはこちら

その他注意事項

1)　持込み試料について

• 持込み試料は公開可能なものに限ります。事前に届け出を行っていただき，安全審査を行います。放射性物質、生物試料等は持込みできません。
• 測定対象元素と吸収端は、₁₄Si ～ ₂₁ScのK端、₉Y ～ ₅₃IのL端、₇₇Ir ～のM端です。
• He大気圧チェンバを用い、転換電子収量（CEY)／部分蛍光収量（PEY)同時測定により行います。粉末や液体の測定も可能です。

2)　データ持ち帰り用のストレージを持参ください。

　　USBメモリー（256MB以上の容量）を推奨します。

3)　研修会参加者は、AichiSRの放射線業務従事者登録が必要です。初めての方はお問い合わせください。

4)　研修会への参加は無料ですが、参加者への旅費は支給しません。

5)　申込者多数の場合、締切日以前に募集を終了することがあります。また調整は、当方に一任いただきます。

問い合わせ先

　  (公財)科学技術交流財団　あいちシンクロトロン光センター　　渡辺，上原

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　【SPring-8】　　「XAFS測定研修会」

　日時： 2021年2月2日（火）10：00 ～ 2月3日（水）10：00

　会場： 大型放射光施設　SPring-8　

　アクセス： http://www.spring8.or.jp/ja/about_us/access/

　講義、実習場所： 蓄積リング棟BL14B2

　詳細はこちら

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