2023年度 シンクロトロン光利用者研究会【実地研修】
研究会 開催期間：2023年5月～2024年3月
シンクロトロン光利用者研究会 実地研修
シンクロトロン光利用者研究会では、あいちシンクロトロン光センター（AichiSR）の共用ビームラインで実地研修を実施します。シンクロトロン光の利用を計画されている企業の方、シンクロトロン光に関心のある方は是非お申し込みください。
実地研修はあいち産業科学技術総合センターが公共等利用の利用区分で利用シフトを確保し、皆さまの実習に供するものです。そのため、実習後成果の公開が必要となります。成果の公開とは、実地研修終了後、50日以内に成果報告書(様式4の1）を提出頂くことをさしています。
概要
募集するビームライン：
BL1N2，BL2S1，BL5S1，BL5S2，BL6N1，BL7U，BL8S1，BL8S2，BL8S3，BL11S2
実施時期：2023年 5月～2024年3月まで 各グループ個別で実施します。
参加費：無料
主催 ：あいち産業科学技術総合センター
共催 ：あいちシンクロトロン光センター
参加条件
AichiSRでの実験を予定されている方（未実施の方優先）
※重要：AichiSRの放射線業務従事者登録が必要です。
従事者登録申請書のダウンロードは こちら
学生の方のみでの参加はできません。
実施内容
・区分1 ： シンクロトロン光利用実験の未経験者
・区分2 ： AichiSRで新規に利用を考えている方（異なるビームラインは新規とする）
・区分3 ： あいち産業科学技術総合センターが新規企業利用につながると認める利用（公設試等）
WEB申込み の際に、上記区分、相談内容、測定条件・サンプルについて記入してください。
エントリー後、担当者とメール等で打合せをおこないます。
※実験計画、試料の準備、データの処理、解析について、あいち産科技センターのスタッフ、あいちシンクロトロン光センターのビームラインスタッフ、およびコーディネータが支援します。
実施後、成果報告書（様式4の1）の提出が必要になります。 様式4-1
ビームラインの仕様や手続きについては、ビームライン概要 および 利用について を参考にしてください。
BL1N2 ：軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱビームライン
| 実験条件 |
エネルギー：150～2000eV 任意
XANES測定
室温，真空チャンバ
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BL5S1 ：硬X線XAFS Ⅰビームライン
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実験条件
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エネルギー：5～22keV 任意
XANES測定, EXAFS測定
室温 透過法・蛍光法
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BL11S2 ：硬X線XAFS Ⅱビームライン
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実験条件
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エネルギー：5～26 keV 任意
XANES測定, EXAFS測定
室温 透過法・蛍光法
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BL6N1 ：軟X線XAFS・光電子分光 Ⅰビームライン
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実験条件
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エネルギー：1.75～6keV 任意
XANES測定 高電子分光測定
室温、大気圧中（Heチャンバー）
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BL7U ：真空紫外・軟X線分光ビームライン
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実験条件
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エネルギー：30～1000eV 任意
XANES測定，光電子分光測定
超高真空中
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BL5S2 ：粉末X線回折ビームライン
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実験条件
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エネルギー：8～20keV 任意
粉末X線回折測定（キャピラリー封入）
検出器：PILATUS100K（4連装）
室温、大気中
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BL8S1 ：薄膜X線回折ビームライン
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実験条件
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波長：0.13nm 0.09nm 0.05nm
検出器：PILATUS100K，シンチレーションカウンタ
薄膜・表面X線回折・散乱測定，X線反射率測定，
粉末X線回折測定(平板ホルダー)，応力測定室温、大気中
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BL8S2 ：X線トポグラフィ・X線CT ビームライン
| 実験条件 |
エネルギー：7～24 keV 任意，白色光の利用
X線トポグラフィ，照射実験，X線CT
X線CMOSカメラ，フラットパネルセンサ
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BL8S3 ：広角・小角散乱ビームライン
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実験条件
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波長：0.15nm 0.092nm
カメラ長：20cm，45cm，1.1m，2.2m，4m，6.4m
広角・小角X線散乱測定
検出器：R-AXIS Ⅳ++，PILATUS 2M
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BL2S1（名古屋大学） ：単結晶X線回折ビームライン
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実験条件
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波長：1.12Å 0.72Å
検出器：PILATUS１M
単結晶X線回折測定
大気圧
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締め切り
定員に達し次第受付を終了します。
お申込み
●個人情報の取り扱いについて
記載頂いた連絡先については、当センターが利用促進のために実施する各種事業のご案内の他、利用者のご意見・ご要望を伺うアンケート調査に使用する場合があります。